کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678945 | 1518370 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A method of combining STEM image with parallel beam diffraction and electron-optical conditions for diffractive imaging
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We describe a method of combining STEM imaging functionalities with nanoarea parallel beam electron diffraction on a modern TEM. This facilitates the search for individual particles whose diffraction patterns are needed for diffractive imaging or structural studies of nanoparticles. This also lays out a base for 3D diffraction data collection.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 107, Issues 4–5, April–May 2007, Pages 340–344
Journal: Ultramicroscopy - Volume 107, Issues 4–5, April–May 2007, Pages 340–344
نویسندگان
Haifeng He, Chris Nelson,