کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678949 | 1518370 | 2007 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Charge defects glowing in the dark
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We investigate the effects of local charge defects in HREM imaging, using electron densities calculated by density functional methods. As a model of a planar interface with a local charge defect we use the polar MgO (1 1 1)−3×3R30° surface, which has an additional hole per surface unit cell. A complimentary example, the non-polar MgO (1 0 0) surface that has no local charge defect is simulated for comparison. We show that the contrast due to local charge defects is rather high, and suggest that they should be directly observable.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 107, Issues 4–5, April–May 2007, Pages 374–381
Journal: Ultramicroscopy - Volume 107, Issues 4–5, April–May 2007, Pages 374–381
نویسندگان
Bin Deng, Laurence D. Marks, James M. Rondinelli,