کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1679003 | 1009988 | 2008 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
AFM picking-up manipulation of the metaphase chromosome fragment by using the tweezers-type probe
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We have studied the development of a new procedure based on atomic force microscopy (AFM) for the analysis of metaphase chromosome. The aim of this study was to obtain detailed information about the specific locations of genes on the metaphase chromosome. In this research, we performed the manipulation of the metaphase chromosome by using novel AFM probes to obtain chromosome fragments of a smaller size than the ones obtained using the conventional methods, such as glass microneedles. We could pick up the fragment of the metaphase chromosome dissected by the knife-edged probe by using our tweezers-type probe.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 108, Issue 9, August 2008, Pages 847–854
Journal: Ultramicroscopy - Volume 108, Issue 9, August 2008, Pages 847–854
نویسندگان
Keiichiro Yamanaka, Masato Saito, Motoharu Shichiri, Sigeru Sugiyama, Yuzuru Takamura, Gen Hashiguchi, Eiichi Tamiya,