کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1684237 | 1518749 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Determination of tetragonal distortion of Al0.69In0.09Ga0.22N/GaN heterostructure by RBS/C and HRXRD
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Rutherford backscattering/channeling spectrometry (RBS/C) was used to characterize the composition and structure of an Al0.69In0.09Ga0.22N/GaN crystalline film (κmin = 3.075%). The elastic strain induced tetragonal distortion value, eT, was determined by RBS/C and high resolution X-ray diffraction (HRXRD). Within the error range, the two methods gave fair agreement on the degree of strain. Comparing the two results, a possible correction due to a deviation for Vegard's law when large strain exists is discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 268, Issues 11â12, June 2010, Pages 1871-1874
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 268, Issues 11â12, June 2010, Pages 1871-1874
نویسندگان
T. Fa, T.X. Chen, S.D. Yao,