کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1691783 | 1011333 | 2008 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Tin oxide thin layers obtained by vacuum evaporation of tin and annealing under oxygen flow
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Tin dioxide layers have been prepared by vacuum evaporation of tin on ordinary glass substrates. Thickness of the deposited tin layers was 500 or 1000 Å. Enrichment in oxygen was ensured by a thermal annealing at temperatures between 300 and 500 °C, for 1, 2, 4, 6, 8 and 10 h. The layers were characterized using X-ray diffraction, environmental scanning electron microscopy and EDX analysis and conductivity by the 4 point method. Oxygen enrichment of these films during annealing at high temperature induces the formation of the nanocrystalline tin oxide.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Vacuum - Volume 82, Issue 8, 14 April 2008, Pages 782–788
Journal: Vacuum - Volume 82, Issue 8, 14 April 2008, Pages 782–788
نویسندگان
Souad Laghrib, Hania Amardjia-Adnani, Djamila Abdi, Jean Marc Pelletier,