کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1787093 | 1023430 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Local interaction imaging by SiGe quantum dot probe
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Local interaction imaging by SiGe quantum dot probe Local interaction imaging by SiGe quantum dot probe](/preview/png/1787093.png)
چکیده انگلیسی
⺠We fabricated high aspect ratio SiGe quantum dot probe. ⺠Local interaction imaging of cleaved InAs surface was demonstrated by FM nc-AFM. ⺠The local contrast image is attributed to no contact potential difference. ⺠Low frequency-change of the probe contributes to the local contrast image.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Current Applied Physics - Volume 12, Issue 2, March 2012, Pages 581-584
Journal: Current Applied Physics - Volume 12, Issue 2, March 2012, Pages 581-584
نویسندگان
Yonkil Jeong, Masato Hirade, Ryohei Kokawa, Hirofumi Yamada, Kei Kobayashi, Noriaki Oyabu, Toyoko Arai, Akira Sasahara, Masahiko Tomitori,