کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1788517 | 1524162 | 2008 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ synchrotron studies of ZnO nanostructures during electrochemical deposition
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
ZnO nanostructured films fabricated by electrochemical deposition exhibit a variety of morphologies. Understanding their respective nucleation and growth mechanisms requires in situ techniques. A time-resolved X-ray absorption and fluorescence method is described, which adequately captures both processes and illustrates differences in the growth rates for films deposited at different potentials. In so doing, the new method has significant advantages over a previous method of continually scanning across the near-edge region of the absorption spectrum while the film was being deposited.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Current Applied Physics - Volume 8, Issues 3â4, May 2008, Pages 455-458
Journal: Current Applied Physics - Volume 8, Issues 3â4, May 2008, Pages 455-458
نویسندگان
Bridget Ingham, Benoit N. Illy, Mary P. Ryan,