کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1891425 | 1533531 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of crystalline thin films and nanofibers by means of the laser–plasma EUV-source based microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
تشعشع
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
New developments in nanoscience and nanotechnology require nanometer scale resolution imaging tools and techniques such as an extreme ultraviolet (EUV) and soft X-ray (SXR) microscopy, based on Fresnel zone plates. In this paper, we report on applications of a desk-top microscopy using a laser-plasma EUV source based on a gas-puff target for studies of morphology of thin silicon membranes coated with NaCl crystals and samples composed of ZnO nanofibers.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Radiation Physics and Chemistry - Volume 93, December 2013, Pages 54–58
Journal: Radiation Physics and Chemistry - Volume 93, December 2013, Pages 54–58
نویسندگان
P.W. Wachulak, A. Bartnik, A. Baranowska-Korczyc, D. Pánek, P. Brůža, J. Kostecki, Ł. Węgrzyński, R. Jarocki, M. Szczurek, K. Fronc, D. Elbaum, H. Fiedorowicz,