کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4970697 | 1450226 | 2017 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Refresh re-use based transparent test for detection of in-field permanent faults in DRAMs
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Both analytic predictions and simulation results for the method proposed here indicate real estate benefits and test time savings in comparison to other reported techniques. The proposed refresh re-use based transparent test technique provides a cost effective solution by providing facility for periodic tests of DRAM without requiring additional test hardware.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Integration, the VLSI Journal - Volume 59, September 2017, Pages 168-178
Journal: Integration, the VLSI Journal - Volume 59, September 2017, Pages 168-178
نویسندگان
Bibhas Ghoshal, Chittaranjan Mandal, Indranil Sengupta,