Why current secure scan designs fail and how to fix them?

طراحی اسکن شده تبدیل به کانال جانبی دیگری از نشت اطلاعات محرمانه در تراشه های رمزنگاری شده است. روشهای مبتنی بر نظارت زنجیره اسکن مخرب به عنوان مقابله با حملات مبتنی بر اسکن ارائه شده است. در این مقاله، ابتدا طرح های امن اسکن ایمن را از زاویه تحلیل می کنیم که آیا آنها نیاز به یک حالت زنجیره ای کامل دارند یا به هر زنجیره اسکن خاصی تکیه می کنند. ما نشان می دهیم که تمام حملات موجود بر روی زنجیره اسکن خاصی تکیه نمی کنند و در نتیجه هر طراحی اسکن ایمن با دستور زنجیره اسکن مبهم شده نمی تواند امنیت کافی را فراهم کند. سپس یک رویکرد جدید ارائه می دهیم که حالت های تمام سلول های اسکن حساس را هر زمان که مدار تحت آزمایش به حالت آزمون منتقل می شود پاک کند. همچنین دسترسی کلیدی در کل فرآیند تست را مسدود خواهد کرد. نتایج تجربی ما نشان می دهد که طراحی اسکن پیشنهاد شده می تواند به طور موثر تمام اطلاعات مربوط به کلید رمز را از زنجیره اسکن با سر و صدای کمی طراحی طراحی نماید، بنابراین می تواند با موفقیت تمام حملات مبتنی بر اسکن را دفاع کند.