کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4971258 1450466 2017 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysis of device capacitance and subthreshold behavior of Tri-gate SOI FinFET
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Analysis of device capacitance and subthreshold behavior of Tri-gate SOI FinFET
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 62, April 2017, Pages 30-37
نویسندگان
, ,