کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971517 | 1450528 | 2017 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Exploration of baking temperature effects on 28Â nm BEOL reliability
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
SM effect and anneal effect will both appear after baking. SM effect plays a main role at low baking temperature. Anneal effect acts a dominant role at high baking temperature.106
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 72, May 2017, Pages 1-4
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 72, May 2017, Pages 1-4
نویسندگان
XiangFu Zhao, Wei Ting Kary Chien,