کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4971547 1450526 2017 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Threshold-voltage variability analysis and modeling for junctionless double-gate transistors
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل متغیرهای ولتاژ آستانه و مدل سازی برای ترانزیستورهای دو طرفه بدون اتصال
کلمات کلیدی
تنش آستانه ولتاژ، دوپینگ گسسته تصادفی، نوسان دافنت تصادفی، ترانزیستور دو درب
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش مقاله
تجزیه و تحلیل متغیرهای ولتاژ آستانه و مدل سازی برای ترانزیستورهای دو طرفه بدون اتصال
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 74, July 2017, Pages 22-26
نویسندگان
, , ,