کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971800 | 1450536 | 2016 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Efficient reliability evaluation methodologies for combinational circuits
ترجمه فارسی عنوان
روشهای ارزیابی قابلیت اطمینان برای مدارهای ترکیبی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ارزیابی قابلیت اطمینان، ماتریس انتقال احتمالی، مدارهای دیجیتال،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Reliability evaluation methodologies have become important in circuit design. In this paper, we focus on the probabilistic transfer matrix (PTM), which has proven to be a gate-level approach for accurately assess the reliability of a combinational circuit with penalty in simulation runtime and memory usage. In order to improve its efficiency, several methodologies based on traditional PTM are proposed. A general tool is developed to calculate the reliability of a circuit with efficient computation methods based on an optimized PTM (denoted as ECPTM), which achieves runtime and memory usage improvement. Experiments demonstrate how the proposed simulation framework, combined with traditional PTM method, can provide significant reduction in computation runtime and memory usage with different benchmark circuits.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 19-25
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 19-25
نویسندگان
Hao Cai, Kaikai Liu, Lirida Alves de Barros Naviner, You Wang, Mariem Slimani, Jean-François Naviner,