کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971817 | 1450536 | 2016 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Instability of oxide thin film transistor under electrical-mechanical hybrid stress for foldable display
ترجمه فارسی عنوان
بی ثباتی ترانزیستور فیلم نازک اکسید تحت استرس ترکیبی مکانیکی الکتریکی برای نمایش کشویی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ترانزیستور فیلم نازک اکسید، استاتیک مکانیکی استرس فشار اضطراب، بی ثباتی، مدل سازی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Degradation mechanism of foldable thin film transistors (TFTs) is investigated experimentally by electrical, mechanical and electrical-mechanical hybrid stress experiments. Mechanical and electrical stress environment was set for foldable TFTs and the degradation effect according to the applied stress is investigated and analyzed. Degradation mechanism model that can explain the defect generation is suggested to explain the result of electrical-mechanical hybrid stress experiment.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 109-112
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 64, September 2016, Pages 109-112
نویسندگان
Dongseok Shin, Min Soo Bae, Ilgu Yun,