کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4985706 | 1454765 | 2016 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nanoscale investigations: Surface potential of rare-earth oxide (Re2O3) thin films by kelvin probe force microscopy for next generation CMOS technology
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
شیمی کلوئیدی و سطحی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surfaces and Interfaces - Volume 4, October 2016, Pages 69-76
Journal: Surfaces and Interfaces - Volume 4, October 2016, Pages 69-76
نویسندگان
Pawan Kumar, Robin Khosla, Satinder K. Sharma,