دانلود مقالات ISI درباره بالا آقای + ترجمه فارسی

Nanoscale investigations: Surface potential of rare-earth oxide (Re2O3) thin films by kelvin probe force microscopy for next generation CMOS technology

Keywords: بالا آقای; High-κ; Thin films; Er2O3; CPD; KPFM; Rapid thermal annealing; Furnace annealing;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

A novel technique exploiting C-V, G-V and I-V simulations to investigate defect distribution and native oxide in high-κ dielectrics for III-V MOSFETs

Keywords: بالا آقای; High-κ; III-V; Capacitance; Conductance; Defects; Current simulations;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

High performance sol-gel spin-coated titanium dioxide dielectric based MOS structures

Keywords: بالا آقای; Anatase TiO2; Sol-gel spin-coating; High-κ; MOS; Surface roughness;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

Single-parameter model for the post-breakdown conduction characteristics of HoTiOx-based MIM capacitors

Keywords: بالا آقای; Breakdown; Reliability; High-κ; Resistive switching;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Impact of local structural and electrical properties of grain boundaries in polycrystalline HfO2 on reliability of SiOx interfacial layer

Keywords: بالا آقای; High-κ; Dielectric; Nanoscale characterization; Grain boundaries; Interfacial layer; Reliability;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

AR-HPES study on chemical bonding states of high-κ/high-μ gate stacks for advanced CMOS

Keywords: بالا آقای; Photoelectron spectroscopy; High-κ; Semiconductor; Interface;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Magnesium metallic interlayer as an oxygen-diffusion-barrier between high-κ dielectric thin films and silicon substrate

Keywords: بالا آقای; High-κ; Dielectric; Diffusion barrier; Sputtering;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Experimental study of mobility degradation in ultrathin high-κ based MOSFETs

Keywords: بالا آقای; Mobility degradation; High-κ; Ultrathin MOSFETs; Gate dielectrics; Remote scattering;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Extension of Far UV spectroscopic ellipsometry studies of High-κ dielectric films to 130 nm

Keywords: بالا آقای; Spectroscopic ellipsometry; High-κ; Hafnium; Lanthanum; X-ray reflectivity; Cody-Lorentz;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Band alignments at SrZrO3/Ge(0 0 1) interface: Thermal annealing effects

Keywords: بالا آقای; High-κ; Ge-FETs; Gate dielectrics;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Low-temperature deposition of stoichiometric HfO2 on silicon: Analysis and quantification of the HfO2/Si interface from electrical and XPS measurements

Keywords: بالا آقای; High-κ; Dielectrics; HfO2; SiO2; Sputtering; XPS; Depth profile;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Electrical characterization and carrier transportation in Hf-silicate dielectrics using ALD gate stacks for 90 nm node MOSFETs

Keywords: بالا آقای; 68.47.Fg; 68.60.Dv; 68.35.Gy; 68.47.Gh; HfSiON; High-κ; Interface traps; Carrier transportation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Interface characterization and current conduction in HfO2-gated MOS capacitors

Keywords: بالا آقای; 68.47.Fg; 68.35.Gy; 68.47.Gh; HfO2; High-κ; Interface traps density; Near-interface oxide traps;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Charge trapping and detrapping in HfO2 high-κ MOS capacitors using internal photoemission

Keywords: بالا آقای; high-κ; oxide charge trapping; internal photoemission; charge centroid; photocurrent;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

HfO2/spacer-interface breakdown in HfO2 high-κ/poly-silicon gate stacks

Keywords: بالا آقای; gate dielectric; HfO2/spacer-interface; breakdown; high-κ; source/drain extension; nMOSFETs;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Structural and electrical characterization of Al2O3/HfO2/Al2O3 on strained SiGe

Keywords: بالا آقای; High-κ; SiGe; MOSFET; Atomic layer deposition (ALD); Characterization;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Ni-salicided CMOS with a poly-SiGe/Al2O3/HfO2/Al2O3 gate stack

Keywords: بالا آقای; High-κ; Poly-SiGe; MOSFET; Atomic layer deposition; Strained SiGe;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Low-frequency noise and Coulomb scattering in Si0.8Ge0.2 surface channel pMOSFETs with ALD Al2O3 gate dielectrics

Keywords: بالا آقای; 85.30.Tv; 73.50.Td; 73.61.Ng; 73.40.Qv; Low-frequency noise; 1/f noise; Correlated mobility fluctuations; Coulomb scattering; High-κ; Al2O3;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه