کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5014645 1369402 2016 46 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Practical considerations for reliable stress and oxygen surface exchange coefficients from bilayer curvature relaxation measurements
ترجمه فارسی عنوان
ملاحظات عملی برای ضرایب پایداری قابل اعتماد و اکسایش سطحی از اندازه گیری های آرام سازی انحنای دو طرفه
کلمات کلیدی
مبادله سطح اکسیژن، آرامش انحرافی فشار شیمیایی، استرس شیمیایی، اتصال مکانیکی و شیمیایی، فیلم نازک، مکانیکی و شیمیایی فعال،
ترجمه چکیده
تکنیک آرام سازی انحنای یک روش الکترود جدید برای اندازه گیری همزمان ضریب مبادله سطح اکسیژن شیمیایی مواد و وضعیت تنش تحت شرایط محیطی کنترل شده و شرایط دما است. با ارائه شرایط خاصی، این روش در محل / در عملیات می تواند مورد استفاده قرار گیرد برای اندازه گیری دقیق ضرایب مبادله سطح اکسیژن و حالت های تنش از مواد تبادل اکسیژن پلی اتیلن متراکم، متخلخل، نازک یا ضخیم. در این مقاله، بحث مفصلی و عملی در مورد این شرایط ارائه شده است و تکنیک آرام سازی انحنای آن را به روشهای اندازه گیری ضریب مبادله مبدل های جایگزین جایگزین می کند.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی انرژی مهندسی انرژی و فناوری های برق
پیش نمایش مقاله
ملاحظات عملی برای ضرایب پایداری قابل اعتماد و اکسایش سطحی از اندازه گیری های آرام سازی انحنای دو طرفه
چکیده انگلیسی
The curvature relaxation technique is a new electrode-free method for simultaneously measuring a material's chemical oxygen surface exchange coefficient and stress state under controlled atmosphere and temperature conditions. Provided certain conditions are met, this in situ/in operando technique can be used to accurately measure the oxygen surface exchange coefficients and stress states of dense, porous, thin, or thick film oxygen exchange materials. The present paper provides a detailed, practical discussion of these conditions and compares the curvature relaxation technique to alternative oxygen surface exchange coefficient measurement approaches.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Extreme Mechanics Letters - Volume 9, Part 3, December 2016, Pages 405-421
نویسندگان
,