کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5096334 | 1376520 | 2013 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A zero inefficiency stochastic frontier model
ترجمه فارسی عنوان
مدل مرزی تصادفی صفر ناکارآمدی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ترجمه چکیده
الگوهای مرزی تصادفی سنتی رفتارهای ناکارآمدانه را در همه شرکت هایی که در نمونه مورد علاقه هستند اعمال می کنند. اگر اطلاعات مورد بررسی نشان دهنده مخلوطی از دو شرکت کاملا کارآمد و ناکارآمد باشد، مدلهای مرزی خالی از نظر آماری ناکافی هستند. ما مدل مرزی تصادفی صفر ناکارآمدی را معرفی میکنیم که میتواند وجود شرکتهای کارآمد و ناکارآمد را در نمونه نشان دهد. ما تابع احتمال ورود به سیستم را به دست می آوریم، میانگین کارایی شرطی ناکارآمدی، برای تخمین ناکارآمدی خاص ناظر و بحث در مورد آزمایش برای حضور شرکت های کاملا کارآمد است. ما هر دو مدرک شبیه سازی شده و همچنین یک نمونه تجربی را ارائه می دهیم که نشان دهنده کاربرد روش پیشنهادی است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
ریاضیات
آمار و احتمال
چکیده انگلیسی
Traditional stochastic frontier models impose inefficient behavior on all firms in the sample of interest. If the data under investigation represent a mixture of both fully efficient and inefficient firms then off-the-shelf frontier models are statistically inadequate. We introduce the zero inefficiency stochastic frontier model which can accommodate the presence of both efficient and inefficient firms in the sample. We derive the corresponding log-likelihood function, conditional mean of inefficiency, to estimate observation-specific inefficiency and discuss testing for the presence of fully efficient firms. We provide both simulated evidence as well as an empirical example which demonstrates the applicability of the proposed method.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Econometrics - Volume 172, Issue 1, January 2013, Pages 66-76
Journal: Journal of Econometrics - Volume 172, Issue 1, January 2013, Pages 66-76
نویسندگان
Subal C. Kumbhakar, Christopher F. Parmeter, Efthymios G. Tsionas,