Optical and structural characterization of Ge clusters embedded in ZrO2

کد مقاله	کد نشریه	سال انتشار	مقاله انگلیسی	نسخه تمام متن
5347695	1388052	2017	21 صفحه PDF	دانلود رایگان

عنوان انگلیسی مقاله ISI

دانلود مقاله + سفارش ترجمه

دانلود مقاله ISI انگلیسی

رایگان برای ایرانیان

کلمات کلیدی

RF magnetron sputtering - اسپکترومغناطیسی مغناطیسی RF Spectroscopic ellipsometry - بیضه سنجی طیف سنجی ZrO2 - دی‌اکسید زیرکونیوم Medium energy ion scattering - پراکندگی یون های متوسط انرژی

موضوعات مرتبط

مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی

پیش نمایش صفحه اول مقاله

Optical and structural characterization of Ge clusters embedded in ZrO2

ناشر

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 283-288

نویسندگان

E. Agocs, Z. Zolnai, A.K. Rossall, J.A. van den Berg, B. Fodor, D. Lehninger, L. Khomenkova, S. Ponomaryov, O. Gudymenko, V. Yukhymchuk, B. Kalas, J. Heitmann, P. Petrik,

علوم انسانی و هنر

فنی، مهندسی و علوم پایه

پزشکی و سلامت

بیو تکنولوژی

پذیرش سفارش ترجمه

Optical and structural characterization of Ge clusters embedded in ZrO2

دسترسی سریع

ارتباط

English Website