دانلود رایگان مقاله ISI : طیف سنجی طیف سنجی برای تجزیه و تحلیل دستگاه های فتوولتائیک نازک پلی کریستالی و پیش بینی راندمان کوانتومی خارجی

Spectroscopic ellipsometry for analysis of polycrystalline thin-film photovoltaic devices and prediction of external quantum efficiency

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 421, Part B, 1 November 2017, Pages 601-607

Abdel-Rahman Ibdah, Prakash Koirala, Puruswottam Aryal, Puja Pradhan, Sylvain Marsillac, Angus A. Rockett, Nikolas J. Podraza, Robert W. Collins,