کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5348065 | 1503602 | 2016 | 38 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of rapid thermal annealing on structural, chemical, and electrical characteristics of atomic-layer deposited lanthanum doped zirconium dioxide thin film on 4H-SiC substrate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 365, 1 March 2016, Pages 296-305
Journal: Applied Surface Science - Volume 365, 1 March 2016, Pages 296-305
نویسندگان
Way Foong Lim, Hock Jin Quah, Qifeng Lu, Yifei Mu, Wan Azli Wan Ismail, Bazura Abdul Rahim, Siti Rahmah Esa, Yeh Yee Kee, Ce Zhou Zhao, Zainuriah Hassan, Kuan Yew Cheong,