طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز

در این صفحه تعداد 69 مقاله تخصصی درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Single cell analysis; Lipids; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; Noble metal/matrix enhancement; Mass spectrometry imaging;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; ACh+; Acetylcholine; AOCB[6]; (Allyloxy)12 cucurbit[6]uril; AFM; Atomic force microscopy; cAMP; 3',5'-Cyclic monophosphate; ChemFET; Chemical field-effect transistor; CB[6]; Cucurbit[6]uril; DDFTTF; 5,5′-Bis-(7-dodecyl-9Hfluoren-2-yl)-2,2′-bithiop
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; dry powder inhaler (DPI); force control agent (FCA); blending method; dispersibility; next generation impactor (NGI); single particle aerosol mass spectrometry (SPAMS); time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS); AFM; atomic force microscop
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Forensic chemistry; Questioned documents; Ink analysis; Crossing inks; Intersecting lines; Pen ink; AFM; Atomic Force Microscopy; ALS; Alternating Least Squares; ANOVA; Analysis of Variance; ATR-FTIR; Attenuated Total Reflectance-Fourier Transform Infra
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; 2D/3D; two/three dimensional; AA; amino acid; AFM; atomic force microscope/microscopy; ATRP; atom transfer radical polymerization; BCA; bicinchoninic acid; bFGF; basic fibroblast growth factor; BSA; bovine serum albumin; CAM; cell adhesion molecule; CDI;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Manufactured nanomaterials; Physico-chemical properties; Characterisation; OECD test guidelines; Working party on manufactured nanomaterials; 2D; two dimensional; 3D; three dimensional; AES; Auger electron spectroscopy; AFM; Atomic force microscopy; ATOF-
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Immunosensor biofunctionalization; Contact pin-printing; Silicon nitride; Atomic force microscopy; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; Spectroscopic ellipsometry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Vanadium pentoxide; Room temperature ionic liquid; Solid permeable interface layer; Atomic layer deposition; X-ray photoelectron spectroscopy; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; PAMAM dendrimer; Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry; Chlorhexidine; In vitro skin diffusion; Tape stripping; Penetration enhancer;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; polythiophene; antibody orientation; time-of-flight secondary ion mass spectrometry; principal component analysis; X-ray photoelectron spectroscopy; atomic force microscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Lanthanum doped zirconium oxide; Atomic layer deposition; Rapid thermal annealing; X-ray photoelectron spectroscopy; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Biosensor functionalization; On-chip immunoassay; Multi-molecular coverage; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; X-ray photoelectron spectroscopy; Atomic force microscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; High-resolution transmission electron microscopy; X-ray interferential mirror; Magnetron sputtering; Sputter depth profiling; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; Ultra-thin films
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Segregation kinetics; Vacancy formation energy; Activation energy of diffusion; Migration energy; Schottky defect mechanism; Density functional theory; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; Auger electron spectroscopy; X-ray diffraction;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; 3D-LSM; 3D-Laser Scanning Microscopy; AAS; atomic absorption spectrometry; AFM; Atomic Force Microscopy; ALT; average layer thickness; FTIR; Fourier transform infrared spectroscopy; ICP-OES; inductively coupled plasma optical emission spectrometry; LOD; l
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; AF4; asymmetrical flow-field flow fractionation; AAS; atomic absorption spectroscopy; AFM; atomic force microscopy; AS; activated sludge; BET; Brunauer-Emmett-Teller sorption model; CCC; critical coagulation concentration; CDI; charge determining ions
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Gamma globulins; Physical adsorption; Covalent bonding; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; Principal component regression;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; PLGA; PVP; microspheres; controlled release; spray drying; DSC; atomic force microscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; time-of-flight secondary ion mass spectrometry; nanothermal analysis
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; ABPT; aminobiphenylthiol; AFM; atomic force microscope; AMBPT; (4′-azomethylmalonodinitrile)-1,1′-biphenyl-4-thiol; B1BPT; bis-1,1-biphenylthiol; B4BPT; bis-4,4-biphenylthiol; BBDS; bisbiphenyl-disulfanyl; BBPDT; bisbiphenylene-dithiol; BE; binding en
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; SIMS; secondary ion mass spectrometry; ToF-SIMS; time-of-flight secondary ion mass spectrometry; MALDI; imaging mass spectrometry; IMS; matrix-assisted laser desorption ionization; DESI; desorption electrospray ionization; FAB; fast atom bombardment; Ga;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; 33.15.Ry; 33.15.Ta; 36.40.−c; 68.49.Sf; 68.55.Jk; 77.55.+f; Silicon dioxide; Fragment species; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; Electronegativity;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Biomolecule–surface interactions; Self-assembled monolayers; Biosensors; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Polymer surface modification; Surface analysis; Covalent attachment; Bioactive compounds; Biosensors; Biomaterials; AFM; atomic force microscopy; Ar; argon; ATR-FTIR; attenuated total reflectance Fourier transform infrared spectroscopy; BCA; bicinchoninic
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پرواز; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; Multivariate statistical analysis; Surface analysis; Polymer additive; Octabenzyl-polyhedral oligomeric silsesquioxane; Microscopy;