کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8413017 1545328 2015 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analysis of thin baked-on silicone layers by FTIR and 3D-Laser Scanning Microscopy
کلمات کلیدی
AFMToF SIMSVSIALTPSIICP-OESAASPDMSLOQPFs - PF هاInductively coupled plasma optical emission spectrometry - اسپکترومتر نوری نوری پلاسما به صورت القایی متصل شده استsin - بدونVertical scanning interferometry - تداخل سنجی عمودی اسکنLOD یا Limit of detection - حد تشخیصSiliconization - سیلیکون سازیRefractive index - ضریب شکستFTIR - طیف سنج مادون قرمزatomic absorption spectrometry - طیف سنجی جذب اتمیTime-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry - طیف سنجی جرم یونی ثانویه زمان پروازFourier transform infrared spectroscopy - طیف سنجی مادون قرمز تبدیل فوریه یا طیف سنجی FTIRlimit of quantification - محدودیت اندازه گیریlimit of detection - محدودیت تشخیصSEM - مدل معادلات ساختاری / میکروسکوپ الکترونی روبشیScanning electron microscopy - میکروسکوپ الکترونی روبشیatomic force microscopy - میکروسکوپ نیروی اتمیPolydimethylsiloxane - پلی‌متیل‌سیلوکسانCartridge - کارتریج
موضوعات مرتبط
علوم زیستی و بیوفناوری بیوشیمی، ژنتیک و زیست شناسی مولکولی بیوتکنولوژی یا زیست‌فناوری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Analysis of thin baked-on silicone layers by FTIR and 3D-Laser Scanning Microscopy
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: European Journal of Pharmaceutics and Biopharmaceutics - Volume 96, October 2015, Pages 304-313
نویسندگان
, , , , , ,