کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5349471 | 1503620 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ infrared ellipsometric monitoring of the growth process of polyaniline thin films and doping with poly(4-styrenesulfonate)
ترجمه فارسی عنوان
نظارت بر بیلیسومتری مادون قرمز در فضای رشد فرایند فیلمهای نازک پلانیلن و دوپینگ با پلی (4-استیرنسولفونات)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
In this work, different undoped and doped polyaniline (PANI) films were synthesized by electrochemical pulse deposition. The growth process was in situ investigated using a combined infrared spectroscopic ellipsometry (IRSE) and optical spectroscopy set-up in the visible spectral range [Vis-ellipsometry and reflectance anisotropy spectroscopy (RAS)]. A growth acceleration effect and thicker PANI films in the presence of poly(4-styrenesulfonate) (PSS) are concluded from the measurements in the infrared and visible spectral range. IR-microscopic spectra revealed a strong inhomogeneity of the obtained PANI film doped with PSS. Moreover, the interpretation of the in situ IR ellipsometry spectra not only delivered qualitative (e.g., chemical structure and composition) information, but also quantitative information (e.g., film thickness) in the growth process of the PANI films by applying an optical layer model.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 344, 30 July 2015, Pages 181-187
Journal: Applied Surface Science - Volume 344, 30 July 2015, Pages 181-187
نویسندگان
Guoguang Sun, Xin Zhang, Jörg Rappich, Karsten Hinrichs,