کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5349676 1503644 2014 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characteristics of flexographic printed indium-zinc-oxide thin films as an active semiconductor layer in thin film field-effect transistors
ترجمه فارسی عنوان
ویژگی های ورق نازک وریدی ورق فلکسوک به عنوان یک لایه نیمه هادی فعال در ترانزیستورهای اثر میدان نازک
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش مقاله
ویژگی های ورق نازک وریدی ورق فلکسوک به عنوان یک لایه نیمه هادی فعال در ترانزیستورهای اثر میدان نازک
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 320, 30 November 2014, Pages 634-642
نویسندگان
, , ,