کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5350806 | 1503663 | 2014 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Multifractal analysis of textured silicon surfaces
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل چندفرهنگی سطوح سیلیکونی بافت
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
نیمه هادی ها، بافت، فراکتال، خواص نوری،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
Pyramidal textures with random distribution of texture shapes on crystalline Si wafers substantially reduce reflection losses of substrates for high-efficiency solar cells, detectors and similar applications. In this work random pyramids on n-type Si wafers were prepared by anisotropic surface etching in potassium hydroxide (KOH) solution. The morphology of pyramidal shapes was examined by the AFM method and reveals high complexity of the surface structure. Properties of AFM observed pyramidal textures were characterized by the statistical and multifractal methods. This approach provides good platform for the distinguishing between fine details in the pyramidal distributions. Significant correlation between the fractal properties of surface texture and its optical properties characterized by the spectral reflectance function is observed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 301, 15 May 2014, Pages 46-50
Journal: Applied Surface Science - Volume 301, 15 May 2014, Pages 46-50
نویسندگان
Stanislav JureÄka, Heike Angermann, Hikaru Kobayashi, Masao Takahashi, Emil PinÄÃk,