کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5351183 | 1503649 | 2014 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Deuterium depth profile quantification in a ASDEX Upgrade divertor tile using secondary ion mass spectrometry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A further comparison where the SIMS deuterium concentration is obtained by calibrating the measurements against NRA values is also presented. For the tungsten samples, where no Ta induced matrix effects are present, the two methods are almost equivalent.The results presented show the potential of the method provided that the standards used for the calibration reproduce faithfully the matrix nature of the samples.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 315, 1 October 2014, Pages 459-466
Journal: Applied Surface Science - Volume 315, 1 October 2014, Pages 459-466
نویسندگان
F. Ghezzi, R. Caniello, D. Giubertoni, M. Bersani, A. Hakola, M. Mayer, V. Rohde, M. Anderle, ASDEX Upgrade team ASDEX Upgrade team,