کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5352204 1503592 2016 13 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Critical invisible defect detection system of thin film transistor panels using Kelvin probe force microscopy
ترجمه فارسی عنوان
سیستم تشخیص نقص ناشناخته بحرانی پانل های ترانزیستور نازک با استفاده از میکروسکوپ نیروی کلوین می باشد
کلمات کلیدی
میکروسکوپ نیروی پروب کلوین، پانل ترانزیستور فیلم نازک، تماس با اختلاف پتانسیل، اسکن خط، تشخیص نقص غیر قابل مشاهده بحرانی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش مقاله
سیستم تشخیص نقص ناشناخته بحرانی پانل های ترانزیستور نازک با استفاده از میکروسکوپ نیروی کلوین می باشد
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 375, 1 July 2016, Pages 19-25
نویسندگان
, ,