Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Organic transistors; Trap states; Grain boundaries;
مقالات ISI میکروسکوپ نیروی کلوین پروب (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Austenitic stainless steels; Aging; Carbides; Magnetic force microscopy; Kelvin probe force microscopy; Magnetic properties;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Charge distribution; Solid polymer electrolyte; Kelvin probe force microscopy; Interface effects; poly(ethylene oxide);
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Fiber optics; Optical fiber tips; Biology; Microfabrication; Optical fiber sensors; Optical fiber tweezers (OFTs); AFM; Atomic Force Microscopy; AFM-SNOM; Atomic Force Microscopy Scanning Near-field Optical Microscopy; BPENB; 1,4-bis[2-(4-pyridyl)-ethen
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; AFM; Atomic Force Microscopy; a-Si; H: hydrogenated amorphous silicon; IBC; Interdigitated Back Contact Solar Cell; ITO; Indium Tin Oxide; J(V); current density - voltage; KPFM; Kelvin Probe Force Microscopy; SE; Secondary Electrons; SEM; Scanning Elect
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Field emission; Silicon nanofacets; Kelvin probe force microscopy; Work function;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Sample stretching; Atomic force microscopy; Kelvin probe force microscopy;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Bulk heterojunction; All-polymer solar cell; Kelvin probe force microscopy; Phase segregation; Photo-generated charge behavior;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Chemical vapour deposition; Graphene; Kelvin probe force microscopy; Raman spectroscopy
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Thin film transistor panel; Contact potential difference; Line scan; Critical invisible defect detection;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin Probe Force Microscopy; Topography correlated artifact; Distance dependence; Probe change;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Organic field-effect transistors; Copper phthalocyanine; Kelvin probe force microscopy; Domain boundary; Air-stability
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin Probe Force Microscopy; Contact Potential Difference; PeakForce; Copper oxidation
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; SThM; scanning thermal microscopy; P-SThM; passive-mode scanning thermal microscopy; KPFM; kelvin probe force microscopy; AFM; atomic force microscopy; SiNW; silicon nanowire; FEM; finite-element method; (MOS)FET; (metal-oxide-semiconductor) field-effect
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Graphene thin films; Copper nanoparticles; Kelvin probe force microscopy; Tight-binding calculations;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Langmuir-Blodgett films; Self-assembled monolayer; Tetrathiafulvalene; Metallic conductivity; Tunneling junction; Kelvin probe force microscopy;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Indium tin oxide; Surface treatment; Surface roughness; Surface work function; Atomic force microscopy; Kelvin probe force microscopy;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Multi-junction solar cells; Kelvin probe force microscopy; High-efficiency solar cells; Epitaxial structures; In-situ illumination; III–V Semiconductors
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Surface potential; Hydroxyapatite; Electron beam;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Electrical biosensors; Doped semiconductors; Biomaterials; Immobilization; Transport;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Secondary ion mass spectrometry; Buried interface; Self-assembled monolayers; Thin polymer film;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Fractal dimensions; Polyelectrolyte adsorbed films;
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Conductive scanning force microscopy; Solar cell; Photo-current AFM; Time resolved EFM; Degradation;
Effect of dopant density on contact potential difference across n-type GaAs homojunctions using Kelvin Probe Force Microscopy
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; n+/Semi-insulating GaAs junctions; Contact potential;
Low-temperature growth and electronic structures of ambipolar Yb-doped zinc tin oxide transparent thin films
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Transparent conducting oxide; Zinc tin oxides; Amorphous oxide thin films; Kelvin probe force microscopy; Hall measurement; Compositional dependence;
High photo-conversion efficiency Cu2ZnSn(S,Se)4 thin-film solar cells prepared by compound-precursors and metal-precursors
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Surface potential; Kelvin probe force microscopy; Metal precursors; Compound precursors; Carrier behavior;
Stable contrast mode on TiO2(110) surface with metal-coated tips using AFM
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; TiO2(110) surface; Stable contrast mode; Atomic force microscopy (AFM); AFM; atomic force microscopy; KPFM; Kelvin probe force microscopy; LCPD; local contact potential difference; LDOS; local density of states; STM; scanning tunnelling microscopy; STS; s
Interface electronic property of organic/organic heterostructure visualized via kelvin probe force microscopy
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Organic semiconductors interfaces; Organic semiconductors; Organic field-effect transistors;
Piezotronic graphene barristor: Efficient and interactive modulation of Schottky barrier
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Piezopotential modulation; Graphene barristor; Schottky barrier; Kelvin probe force microscopy; Interactive;
Surface-enhanced Raman scattering of graphene caused by self-induced nanogating by GaN nanowire array
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Graphene; Gallium nitride; Raman spectroscopy; Surface enhanced Raman scattering; Kelvin probe force microscopy;
Quantifying the heat affected zone in laser scribing of thin film solar cells
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Laser scribing; Thin film solar cell; Heat affected zone; Kelvin probe force microscopy;
Investigation of the effect of organic solvents on the electrical characteristics of PEDOT:PSS/p-Si heterojunction diodes
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; PEDOT:PSS; Solvents; Heterojunction; Electrical properties; Kelvin probe force microscopy;
Achieving overall water splitting on plasmon-based solid Z-scheme photocatalysts free of redox mediators
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Plasmonic photocatalysts; Au/TiO2; solid Z-scheme; Overall water splitting; Kelvin probe force microscopy;
Nano-Newton force based pseudoferroelectric Al-doped ZnO/Si switchable diode
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; 81.15.Cd; 73.61.Wp; 73.50.Pz; 68.37.Ps; Kelvin probe force microscopy; Conductive atomic force microscopy; Transparent conductive oxide;
The trapping, detrapping, and transport of the ambipolar charges in the electret of Polystyrene/C60 blend films
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Charge trapping and detrapping; C60; Kelvin probe force microscopy; Ambipolar injection;
The composition, structure and surface properties of the titanium-carbon coatings prepared by PVD technique
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Diamond-like amorphous carbon; Titanium-carbon nanocomposite; Kelvin probe force microscopy; Electrical properties;
Enhanced electrochemical performances and thermal stability of LiNi1/3Co1/3Mn1/3O2 by surface modification with YF3
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Lithium-ion batteries; Lithium nickel cobalt manganese oxide; Surface modification; Diffusion coefficient; Kelvin probe force microscopy;
Perovskite solar cells: In pursuit of efficiency and stability
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; PSC; perovskite solar cell; PCE; Power conversion efficiency; NERL; National Renewable Energy Laboratory; ECM; electron conducting material; HCM; hole conducting material; DSSC; dye-sensitized solar cells; SM315; porphyrins dye; Spiro-OMeTAD; 2,2â²,7,7â
Te inclusion-induced electrical field perturbation in CdZnTe single crystals revealed by Kelvin probe force microscopy
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; CdZnTe; Te inclusion; Kelvin probe force microscopy; Electrical property; Bias dependent
Surface properties of AlInGaN/GaN heterostructure
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; AlInGaN/GaN; Kelvin probe force microscopy; Scanning tunneling microscopy; V-defects;
Noncontact atomic force and Kelvin probe force microscopy on MgO(100) and MgO(100)-supported Ba
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Noncontact atomic force microscopy; Kelvin probe force microscopy; MgO(100); Barium; Hydroxyl; NOx;
Interface studies of the planar heterojunction perovskite solar cells
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Perovskite solar cells; Electron-collection interlayer; Rhodamine 101; Ultraviolet photoelectron spectroscopy; Kelvin probe force microscopy;
A low-cost, sulfurization free approach to control optical and electronic properties of Cu2ZnSnS4 via precursor variation
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; CZTS; Precursor variation; Band structure; Kelvin probe force microscopy;
Self-assembled monolayers of alkyl-thiols on InAs: A Kelvin probe force microscopy study
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Self-assembled monolayers; Thiols; InAs; Surface analysis; Kelvin probe force microscopy;
Optical and surface probe investigation of secondary phases in Cu2ZnSnS4 films grown by electrochemical deposition
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Cu2ZnSnS4; Electrochemical deposition; Work function; Secondary phases; Kelvin probe force microscopy; Raman scattering spectroscopy;
Nanoscale interface mapping of a CdS-CZTS single nanorod heterojunction using Kelvin probe force microscopy
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Nanorod heterojunction; CdS-CZTS nanorod solar cell;
Effects of Cu2−xS phase removal on surface potential of Cu2ZnSnS4 thin-films grown by electroplating
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Cu2ZnSn(S,Se)4; Cu(In,Ga)Se2; Kesterite; Kelvin probe force microscopy; KCN etching treatment
Surface potential on grain boundaries and intragrains of highly efficient Cu2ZnSn(S,Se)4 thin-films grown by two-step sputtering process
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Cu2ZnSn(S,Se)4; Kelvin probe force microscopy; Surface potential; Carrier transport; Band bending
Buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin Probe Force Microscopy; Buried interface; Metal surface; Self-assembled monolayers; Thin polymer film; Polystyrene; Polyaniline; Polymer blend;
Study of polymer/ZnO nanostructure interfaces by Kelvin probe force microscopy
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Hybrid solar cells; Kelvin probe force microscopy; Interface; Surface potential