میکروسکوپ نیروی کلوین پروب

در این صفحه تعداد 82 مقاله تخصصی درباره میکروسکوپ نیروی کلوین پروب که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI میکروسکوپ نیروی کلوین پروب (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Austenitic stainless steels; Aging; Carbides; Magnetic force microscopy; Kelvin probe force microscopy; Magnetic properties;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Charge distribution; Solid polymer electrolyte; Kelvin probe force microscopy; Interface effects; poly(ethylene oxide);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Fiber optics; Optical fiber tips; Biology; Microfabrication; Optical fiber sensors; Optical fiber tweezers (OFTs); AFM; Atomic Force Microscopy; AFM-SNOM; Atomic Force Microscopy Scanning Near-field Optical Microscopy; BPENB; 1,4-bis[2-(4-pyridyl)-ethen
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; AFM; Atomic Force Microscopy; a-Si; H: hydrogenated amorphous silicon; IBC; Interdigitated Back Contact Solar Cell; ITO; Indium Tin Oxide; J(V); current density - voltage; KPFM; Kelvin Probe Force Microscopy; SE; Secondary Electrons; SEM; Scanning Elect
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Thin film transistor panel; Contact potential difference; Line scan; Critical invisible defect detection;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; SThM; scanning thermal microscopy; P-SThM; passive-mode scanning thermal microscopy; KPFM; kelvin probe force microscopy; AFM; atomic force microscopy; SiNW; silicon nanowire; FEM; finite-element method; (MOS)FET; (metal-oxide-semiconductor) field-effect
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Langmuir-Blodgett films; Self-assembled monolayer; Tetrathiafulvalene; Metallic conductivity; Tunneling junction; Kelvin probe force microscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Indium tin oxide; Surface treatment; Surface roughness; Surface work function; Atomic force microscopy; Kelvin probe force microscopy;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Multi-junction solar cells; Kelvin probe force microscopy; High-efficiency solar cells; Epitaxial structures; In-situ illumination; III–V Semiconductors
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; Kelvin probe force microscopy; Conductive scanning force microscopy; Solar cell; Photo-current AFM; Time resolved EFM; Degradation;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; TiO2(110) surface; Stable contrast mode; Atomic force microscopy (AFM); AFM; atomic force microscopy; KPFM; Kelvin probe force microscopy; LCPD; local contact potential difference; LDOS; local density of states; STM; scanning tunnelling microscopy; STS; s
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین پروب; PSC; perovskite solar cell; PCE; Power conversion efficiency; NERL; National Renewable Energy Laboratory; ECM; electron conducting material; HCM; hole conducting material; DSSC; dye-sensitized solar cells; SM315; porphyrins dye; Spiro-OMeTAD; 2,2′,7,7â€