کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7123867 | 1461500 | 2016 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A symmetrical stretching stage for electrical atomic force microscopy
ترجمه فارسی عنوان
یک مرحله کشش متقارن برای میکروسکوپ نیروی الکتریکی اتمی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
کشش نمونه میکروسکوپ نیروی اتمی، میکروسکوپ نیروی پروب کلوین،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
کنترل و سیستم های مهندسی
چکیده انگلیسی
We present a remotely-controlled device for sample stretching, designed for use with atomic force microscopy (AFM) and providing electrical connection to the sample. Such a device enables nanoscale investigation of electrical properties of thin gold films deposited on polydimethylsiloxane (PDMS) substrate as a function of the elongation of the structure. Stretching and releasing is remotely controlled with use of a dc actuator. Moreover, the sample is stretched symmetrically, which gives an opportunity to perform AFM scans in the same site without a time-consuming finding procedure. Electrical connections to the sample are also provided, enabling Kelvin probe force microscopy (KPFM) investigations. Additionally, we present results of AFM imaging using the stretching stage.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 87, June 2016, Pages 185-188
Journal: Measurement - Volume 87, June 2016, Pages 185-188
نویسندگان
Grzegorz Wielgoszewski, Magdalena MoczaÅa, Karolina OrÅowska, Piotr Sówka, Wenzhe Cao, Sigurd Wagner, Teodor Gotszalk,