کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5353771 1503698 2013 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
XPS quantification of the hetero-junction interface energy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
XPS quantification of the hetero-junction interface energy
چکیده انگلیسی
▸ Quantum entrapment or polarization dictates the performance of dopant, impurity, interface, alloy and compounds. ▸ Interface bond energy, energy density, and atomic cohesive energy can be determined using XPS and our BOLS theory. ▸ Presents a new and reliable method for catalyst design and identification. ▸ Entrapment makes CuPd to be a p-type catalyst and polarization derives AgPd as an n-type catalyst.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 265, 15 January 2013, Pages 71-77
نویسندگان
, , , , , , ,