کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5353771 | 1503698 | 2013 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
XPS quantification of the hetero-junction interface energy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: XPS quantification of the hetero-junction interface energy XPS quantification of the hetero-junction interface energy](/preview/png/5353771.png)
چکیده انگلیسی
⸠Quantum entrapment or polarization dictates the performance of dopant, impurity, interface, alloy and compounds. ⸠Interface bond energy, energy density, and atomic cohesive energy can be determined using XPS and our BOLS theory. ⸠Presents a new and reliable method for catalyst design and identification. ⸠Entrapment makes CuPd to be a p-type catalyst and polarization derives AgPd as an n-type catalyst.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 265, 15 January 2013, Pages 71-77
Journal: Applied Surface Science - Volume 265, 15 January 2013, Pages 71-77
نویسندگان
Z.S. Ma, Yan Wang, Y.L. Huang, Z.F. Zhou, Y.C. Zhou, Weitao Zheng, Chang Q. Sun,