کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5354516 | 1503690 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
FTIR-ATR spectroscopy in thin film studies: The importance of sampling depth and deposition substrate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: FTIR-ATR spectroscopy in thin film studies: The importance of sampling depth and deposition substrate FTIR-ATR spectroscopy in thin film studies: The importance of sampling depth and deposition substrate](/preview/png/5354516.png)
چکیده انگلیسی
⺠The substrate properties must be considered for the analysis of FTIR-ATR spectra. ⺠Band assignment depends strongly on the used FTIR measurement mode. ⺠FTIR-ATR spectroscopy is powerful for the study of thin film molecular organisation. ⺠Townsend DBD leads to more ordered SiOxHy layers than filamentary DBD.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 273, 15 May 2013, Pages 632-637
Journal: Applied Surface Science - Volume 273, 15 May 2013, Pages 632-637
نویسندگان
G. Laroche, J. Fitremann, N. Gherardi,