کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5354516 1503690 2013 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
FTIR-ATR spectroscopy in thin film studies: The importance of sampling depth and deposition substrate
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
FTIR-ATR spectroscopy in thin film studies: The importance of sampling depth and deposition substrate
چکیده انگلیسی
► The substrate properties must be considered for the analysis of FTIR-ATR spectra. ► Band assignment depends strongly on the used FTIR measurement mode. ► FTIR-ATR spectroscopy is powerful for the study of thin film molecular organisation. ► Townsend DBD leads to more ordered SiOxHy layers than filamentary DBD.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 273, 15 May 2013, Pages 632-637
نویسندگان
, , ,