کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5354759 | 1388180 | 2012 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Chemical and structural analysis of the bone-implant interface by TOF-SIMS, SEM, FIB and TEM: Experimental study in animal
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Time of flight-secondary ion mass spectroscopy (TOF-SIMS) is a valuable tool for assessing the chemical aspects of the bone-implant interface. ⺠TOF-SIMS analysis could be done in combination with other techniques such as light and electron microscopy. ⺠Chemical and structural analysis from macro to nano could be achieved by combining different techniques. ⺠Sample preparation induce artifacts which has to be considered for each analysis.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 17, 15 June 2012, Pages 6485-6494
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 17, 15 June 2012, Pages 6485-6494
نویسندگان
Anders Palmquist, Lena Emanuelsson, Peter Sjövall,