کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5355637 1503703 2012 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Identification of nanoscale structure and morphology reconstruction in oxidized a-SiC:H thin films
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Identification of nanoscale structure and morphology reconstruction in oxidized a-SiC:H thin films
چکیده انگلیسی
► Increase of magnetron discharge power results in densification of a-SiC:H thin films. ► The denser a-SiC:H material the better resistance to oxidation by oxygen. ► Oxidation of soft a-SiC:H films can result in increase of electric conductivity. ► Formation of graphitic clusters was found in a-SiC:H after annealing in oxygen.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 260, 1 November 2012, Pages 73-76
نویسندگان
, , , , , , , , ,