کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5356722 1388208 2012 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Performance improvement mechanisms of i-ZnO/(NH4)2Sx-treated AlGaN MOS diodes
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Performance improvement mechanisms of i-ZnO/(NH4)2Sx-treated AlGaN MOS diodes
چکیده انگلیسی
► The high quality of i-ZnO film could be deposited by a vapor cooling condensation system. ► The i-ZnO/(NH4)2Sx-treated AlGaN MOS diodes shows low interface density of 2.95 × 1011 cm−2 eV−1. ► The band alignment of the i-ZnO/AlGaN interface was analyzed by XPS and CNL model. ► The band offset of the i-ZnO/AlGaN interface was increased by the (NH4)2Sx surface treatment.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 22, 1 September 2012, Pages 8590-8594
نویسندگان
, , , , , ,