کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5356722 | 1388208 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Performance improvement mechanisms of i-ZnO/(NH4)2Sx-treated AlGaN MOS diodes
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Performance improvement mechanisms of i-ZnO/(NH4)2Sx-treated AlGaN MOS diodes Performance improvement mechanisms of i-ZnO/(NH4)2Sx-treated AlGaN MOS diodes](/preview/png/5356722.png)
چکیده انگلیسی
⺠The high quality of i-ZnO film could be deposited by a vapor cooling condensation system. ⺠The i-ZnO/(NH4)2Sx-treated AlGaN MOS diodes shows low interface density of 2.95 Ã 1011 cmâ2 eVâ1. ⺠The band alignment of the i-ZnO/AlGaN interface was analyzed by XPS and CNL model. ⺠The band offset of the i-ZnO/AlGaN interface was increased by the (NH4)2Sx surface treatment.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 22, 1 September 2012, Pages 8590-8594
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 22, 1 September 2012, Pages 8590-8594
نویسندگان
Ching-Ting Lee, Ya-Lan Chiou, Hsin-Ying Lee, Kuo-Jen Chang, Jia-Ching Lin, Hao-Wei Chuang,