کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5356938 1503605 2016 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
193 nm Excimer laser processing of Si/Ge/Si(100) micropatterns
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
193 nm Excimer laser processing of Si/Ge/Si(100) micropatterns
چکیده انگلیسی

- Crystalline SiGe circular microstructures were grown by laser assisted techniques.
- Laser annealing enhances the microstructures aspect ratio.
- Ultrafast melting/solidification cycles avoid the spreading of the whole Ge film.
- Segregation provokes that the free edge of the microstructure is covered by Ge.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 362, 30 January 2016, Pages 217-220
نویسندگان
, , , , ,