کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5359433 | 1388247 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Towards chemical state resolution in regularized depth profiles derived from ARXPS data taken on plasma-oxidized polystyrene
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
ARXPS data obtained from a plasma-oxidized polystyrene sample were evaluated by means of 3-parameter and 10-parameter depth profile models, with and without regularization. It was found that the partially regularized 3-parameter model gave equivalent results compared to the regularized 10-parameter model, but requiring one fifteenth of the computational effort.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 21, 15 August 2009, Pages 8738-8742
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 21, 15 August 2009, Pages 8738-8742
نویسندگان
R.W. Paynter,