کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5361081 | 1388269 | 2008 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
X-ray photoelectron and X-ray Auger electron spectroscopy studies of heavy ion irradiated C60 films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The influence of 200Â MeV Au ion irradiation on the surface properties of polycrystalline fullerene films has been investigated. The X-ray photoelectron and X-ray Auger electron spectroscopies are employed to study the ion-induced modification of the fullerene, near the surface region. The shift of C 1s core level and decrease in intensity of shake-up satellite were used to investigate the structural changes (like sp2 to sp3 conversion) and reduction of Ï electrons, respectively, under heavy ion irradiation. Further, X-ray Auger electron spectroscopy was employed to investigate hybridization conversion qualitatively as a function of ion fluence.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 22, 15 September 2008, Pages 7280-7284
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 22, 15 September 2008, Pages 7280-7284
نویسندگان
Amit Kumar, F. Singh, Govind Govind, S.M. Shivaprasad, D.K. Avasthi, J.C. Pivin,