کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5361655 | 1388275 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
XRD and XPS analysis of laser treated vanadium oxide thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this work, we present X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and X-ray diffraction (XRD) analysis of laser treated vanadium oxide sols. The films were also observed by transmission electron microscopy (TEM) and scanning electron microscopy (SEM) to reveal how the original xerogel structure changes into irregular shaped, layer structured V2O5 due to the laser radiation. XRD revealed that above 102Â W/cm2 the original xerogel structure disappears and above 129Â W/cm2 the films become totally polycrystalline with an orthorhombic structure. XPS spectra showed O/V ratio increment by using higher laser intensities.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 24, 30 September 2009, Pages 9779-9782
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 24, 30 September 2009, Pages 9779-9782
نویسندگان
S. Beke, L. KÅrösi, S. Papp, A. Oszkó, L. Nánai,