کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5362503 | 1388288 | 2008 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Solution of the optical parameters of the thin film systems and interfaces
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Solution of the optical parameters of the thin film systems and interfaces Solution of the optical parameters of the thin film systems and interfaces](/preview/png/5362503.png)
چکیده انگلیسی
We report on the optical parameters of the semiconductor thin films determination. The method is based on the dynamical modeling of the spectral reflectance function combined with the genetic optimization of the initial model. The spectral dependency of the thin film optical parameters computation is based on the optical transitions modeling. The combination of the dynamical modeling and the genetic optimization enable comfortable analysis of the spectral dependences of the optical parameters and incorporation of the microstructure effects on the multilayer system optical properties. The results of the optical parameters of i-a-Si thin films determination are presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 12, 15 April 2008, Pages 3672-3676
Journal: Applied Surface Science - Volume 254, Issue 12, 15 April 2008, Pages 3672-3676
نویسندگان
S. JureÄka, E. PinÄÃk, R. Brunner,