کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5364852 | 1388321 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Morphological characterization of ITO thin films surfaces
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this study, indium tin oxide (ITO) thin films were deposited by electron beam evaporation method on glass substrates at room temperature, followed by postannealing at 200 and 300 °C for annealing time up to 1 h. Fractal image processing has been applied to describe the surface morphology of ITO thin films from their atomic force microscopy (AFM) images. These topographical images of the ITO thin films indicate changes in morphological behavior of the film. Also, the results suggest that the fractal dimension D can be used to explain the change of the entire grain morphology along the growth direction.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 6, 1 January 2009, Pages 3682-3686
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issue 6, 1 January 2009, Pages 3682-3686
نویسندگان
Davood Raoufi,