کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5365017 | 1388324 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
SIMS as a subnanometer probe: A new tool for chemical profile analysis of grafted molecules
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The complexity of modern engineered surfaces requires the development of very powerful methods to analyze and characterize them. We demonstrate that it is possible to obtain chemical information about the skeleton of organic molecules constituting SAMs grafted on a silicon surface by using a new type of SIMS method. A profile can be achieved by the investigation of the temporal variation of secondary ion intensities that correspond to the fractional parts of the molecule constituting the SAMs. The equivalent ablation rate is less than 0.5Â nm/min.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 253, Issue 14, 15 May 2007, Pages 6140-6143
Journal: Applied Surface Science - Volume 253, Issue 14, 15 May 2007, Pages 6140-6143
نویسندگان
Frédéric Chérioux, Bernard Gauthier-Manuel, John Eccles, Thierry Grenut, Marc Briant,