کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5365461 1388331 2010 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Origin of HfO2/GaAs interface states and interface passivation: A first principles study
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Origin of HfO2/GaAs interface states and interface passivation: A first principles study
چکیده انگلیسی

First principles calculations of HfO2/GaAs interfaces indicate that the interface states originate from the charge mismatch between HfO2 and GaAs surfaces. We find that a model neutral interface (HfO2 and GaAs surfaces terminated with two O and one Ga atoms per surface unit cell) removes gap states due to the balance of the interface charge. F and H can neutralize the HfO2/GaAs interface resulting in useful band offsets, thus becoming possible candidates to passivate the interface states.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 256, Issue 22, 1 September 2010, Pages 6569-6573
نویسندگان
, , , , , ,