کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5365461 | 1388331 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Origin of HfO2/GaAs interface states and interface passivation: A first principles study
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
First principles calculations of HfO2/GaAs interfaces indicate that the interface states originate from the charge mismatch between HfO2 and GaAs surfaces. We find that a model neutral interface (HfO2 and GaAs surfaces terminated with two O and one Ga atoms per surface unit cell) removes gap states due to the balance of the interface charge. F and H can neutralize the HfO2/GaAs interface resulting in useful band offsets, thus becoming possible candidates to passivate the interface states.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 256, Issue 22, 1 September 2010, Pages 6569-6573
Journal: Applied Surface Science - Volume 256, Issue 22, 1 September 2010, Pages 6569-6573
نویسندگان
Weichao Wang, Ka Xiong, Geunsik Lee, Min Huang, Robert M. Wallace, Kyeongjae Cho,