کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5368533 | 1388400 | 2006 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural characterisation of Sb-based heterostructures by X-ray scattering methods
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Beside the results on the Sb-based heterostructures, the use of X-ray scattering metrology as a routinely working non-destructive testing method has been emphasized.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 253, Issue 1, 31 October 2006, Pages 112-117
Journal: Applied Surface Science - Volume 253, Issue 1, 31 October 2006, Pages 112-117
نویسندگان
C. Renard, O. Durand, X. Marcadet, J. Massies, O. Parillaud,