کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5368928 | 1388414 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of Cr/6H-SiC(0 0 0 1) nano-contacts by current-sensing AFM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The electrical properties and interface chemistry of Cr/6H-SiC(0Â 0Â 0Â 1) contacts have been studied by current-sensing atomic force microscopy (CS-AFM) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). Cr layers were vapor deposited under ultrahigh vacuum onto both ex situ etched in H2 and in situ Ar+ ion-bombarded samples. The Cr/SiC contacts are electrically non-uniform. Both the measured I-V characteristics and the modeling calculations enabled to estimate changes of the Schottky barrier height caused by Ar+ bombardment. Formation of ohmic nano-contacts on Ar+-bombarded surfaces was observed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 256, Issue 4, 30 November 2009, Pages 1014-1018
Journal: Applied Surface Science - Volume 256, Issue 4, 30 November 2009, Pages 1014-1018
نویسندگان
MiÅosz Grodzicki, Szymon Smolarek, Piotr Mazur, Stefan Zuber, Antoni Ciszewski,