کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
538586 | 871104 | 2011 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Capture-power-aware test data compression using selective encoding
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Ever-increasing test data volume and excessive test power are two of the main concerns of VLSI testing. The “don’t-care” bits (also known as X-bits) in given test cube can be exploited for test data compression and/or test power reduction, and these techniques may contradict to each other because the very same X-bits are likely to be used for different optimization objectives. This paper proposes a capture-power-aware test compression scheme that is able to keep capture-power under a safe limit with low test compression ratio loss. Experimental results on benchmark circuits validate the effectiveness of the proposed solution.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Integration, the VLSI Journal - Volume 44, Issue 3, June 2011, Pages 205–216
Journal: Integration, the VLSI Journal - Volume 44, Issue 3, June 2011, Pages 205–216
نویسندگان
Jia Li, Xiao Liu, Yubin Zhang, Yu Hu, Xiaowei Li, Qiang Xu,