کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
541652 | 871479 | 2014 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Methods for automated detection of plagiarism in integrated-circuit layouts
ترجمه فارسی عنوان
روش های تشخیص خودکار سرقت ادبی در طرح بندی مدار یکپارچه
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
تشخیص سرقت ادبی، حفاظت از حق چاپ طرح مدار یکپارچه، تطبیق طرح
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Student projects have always been plagued by plagiarism. Integrated-circuit (IC) design courses are no exception. Since layout is considered the most laborious part of circuit design, it is common for students to reuse their colleagues׳ work with some minor modifications intended to make the cheating harder to detect. While software detecting plagiarism in text or computer code is commonly used these days, no counterpart exists for IC layouts. This paper proposes several criteria of IC-layout dissimilarity that can be used for computer-aided layout matching. A program based on these criteria is shown to successfully identify similar layouts in a pool of designs.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 45, Issue 9, September 2014, Pages 1212–1219
Journal: Microelectronics Journal - Volume 45, Issue 9, September 2014, Pages 1212–1219
نویسندگان
Dominik Kasprowicz, Hilekaan Wada,