کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5421301 1507878 2016 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Using ToF-SIMS to study industrial surface phenomena
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Using ToF-SIMS to study industrial surface phenomena
چکیده انگلیسی
Rapid detection and imaging of trace Cu on industrial MEMS device using ToF-SIMS.179
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 652, October 2016, Pages 39-45
نویسندگان
, , ,