کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5422517 | 1507917 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electronic structures of silicon monoxide film probed by X-ray absorption spectroscopy
ترجمه فارسی عنوان
ساختارهای الکترونیکی فیلم مونوکسید سیلیکون مورد بررسی با طیف سنجی جذب اشعه ایکس
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
مونوکسید سیلیکون، اشعه ایکس جذب ساختار خوب، تبخیر، جهت گیری مولکولی، قطبش،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
⺠Electronic structures of thin films of silicon monoxides were elucidated. ⺠Si K-edge XAFS spectra showed the existence of silicon di-valence states. ⺠Polarization dependence of XAFS revealed that the molecules are perpendicularly oriented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 612, June 2013, Pages 77-81
Journal: Surface Science - Volume 612, June 2013, Pages 77-81
نویسندگان
Yuji Baba, Tetsuhiro Sekiguchi, Iwao Shimoyama, Norie Hirao,